Объектив микроскопа Carl Zeiss Jena Semiplan 3,2/0,10 160/-

Материал по объективу специально для Радоживы подготовил Родион Эшмаков.

Semiplan 3.2x0.1 в револьвере микроскопа М10.

Semiplan 3.2×0.1 в револьвере микроскопа М10.


Semiplan 3,2/0.10 160/- (далее – Semiplan 3.2×0.1) – простенький старый обзорный объектив стандарта DIN для микроскопов с конечным тубусным расстоянием типа Carl Zeiss Jena Amplival, Laboval. По параметрам и качеству изображения объектив очень напоминает дешевые современные китайские ахроматы типа 4×0.1, входящие в штатный комплект многих биологических микроскопов.

Технические характеристики

Оптическая схема – 2 линзы в 1 склейке, ахроматический дублет;
Тип коррекции – ахромат;
Тубусное расстояние – 160 мм;
Кратность увеличения – 3.2x;
Числовая апертура – 0.1;
Рабочее расстояние – 19.6 мм;
Парфокальное расстояние – 45 мм (стандарт DIN);
Толщина покровного стекла – 0-2 мм;
Требуется иммерсия – нет;
Тип крепления – стандарт RMS (резьба 4/5” x 1/36”);
Особенности – микроскопный объектив, не имеет ирисовой диафрагмы и фокусировочного механизма.

Конструкция объектива

Конструкция объектива крайне минималистична, если не сказать примитивна. Объектив состоит из двух частей – 1) латунной черной оправы с завальцованной линзовой склейкой и с резьбой крепления к микроскопу и 2) тубуса из никелированной латуни с отверстием-полевой диафрагмой. Ахроматический дублет из оправы извлечь нельзя.

Внутренности тубуса и залинзовое пространство объектива имеют качественное матовое чернение, а вот просветления на поверхностях ахромата нет. Впрочем, это значительно лучше, чем в китайских объективах, где просветление есть, а толку от него нет, ибо в отсутствие нормального чернения контраст все равно плох. Поскольку в объективе всего две границы раздела стекло-воздух, то его светопропускание остается высоким в диапазоне длин волн от 400 до 1100 нм при коротковолновой границе пропускания около 320 нм.

Спектр светопропускания Semiplan 3.2x0.1.

Спектр светопропускания Semiplan 3.2×0.1.

По данным рентгенофлуоресцентного анализа обращенная к предмету линза объектива выполнена из стекла типа тяжелого крона, а задняя линза – из тяжелого флинта.

Спектр XRF передней линзы объектива.

Спектр XRF передней линзы объектива.

Спектр XRF задней линзы объектива.

Спектр XRF задней линзы объектива.

Конструктивно Semiplan 3.2×0.1 – не более чем качественно сделанный, но очень простой объектив без каких-либо особенностей, которые могли бы выделить его перед современными или не очень аналогами.

Оптические свойства. Сравнение с аналогами СССР

Объектив имеет неплохую резкость в центральной области кадра, но за пределами поля ~20 мм качество изображения сильно падает из-за влияния астигматизма. Добиться резкого изображения по краю поля перефокусировкой невозможно. Так что название «Semiplan» (то есть «полу-план», то есть «объектив с частично исправленной кривизной поля») немцы явно дали с необоснованно оптимистичным взглядом на реальность.

Уровень контраста изображения довольно хорош благодаря простейшей оптической схеме и грамотно выполненной светозащите объектива.

Сравнение с объективами Прогресс ОМ-3 План 3.5×0.1 и Прогресс ОМ-12 3.7×0.11 (с просветлением) показало, что в центральной области Semiplan несильно отстает от 3.7×0.11, но по полю намного хуже обоих советских объективов. Фотографии были выполнены на Sony NEX-6 в прямом фокусе.

С учетом неплохой коррекции в пределах поля ~20 мм Semiplan 3.2×0.1 вполне пригоден в качестве обзорного объектива для визуальных наблюдений или для фотосъемки с матрицами формата 1” невысокого разрешения.

Ниже приведены примеры фото, выполненные с помощью Sony NEX-6 и модифицированного микроскопа НПЗ М10.
Предметы на фото: 1 – никель-аммониевый шенит, 2 – ацетилацетонат хрома(III), 3 – керамическая подложка с микронагревателем и слоем полупроводникового оксида на чипе газового сенсора, 4-5 – ацетилацетонат железа(III), 6 – медь-аммониевый шенит.

Далее снимки с применением того же оборудования, но с использованием стекинга.
Предметы на фото: 1 – ацетилацетонат хрома(III), 2 – керамическая подложка с микронагревателем и слоем полупроводникового оксида на чипе газового сенсора, 3 – фрагмент платы жесткого диска, 4 – мембранный MEMS чип газового сенсора, 5-6 – ацетилацетонат железа(III), 7 – медь-аммониевый шенит, 8 – никель-аммониевый шенит.

Выводы

Carl Zeiss Jena Semiplan 3.2/0.10 – слишком простой, чтобы быть по-настоящему хорошим. Объектив представляет реальную ценность только разве что как часть аутентичного комплекта оптики для старого цейссовского микроскопа, хотя он также вполне пригоден как обзорный объектив для визуальных наблюдений. Но нет никакого смысла использовать его для фотосъемки в прямом фокусе – для этих целей куда больше подходит очень дешевый и повсеместно доступный китайский объектив Plan 4×0.1.

Добавить комментарий:

 

 

Copyright © Radojuva.com. Автор блога - Фотограф Аркадий Шаповал. 2009-2025

English-version of this article https://radojuva.com/en/2025/06/czj_semiplan_32x0-10/

Versión en español de este artículo https://radojuva.com/es/2025/06/czj_semiplan_32x0-10/